Texas Instruments
IC SCAN-TEST-DEV/XCVR 64-TSSOP (SN74LVTH182512DGGR)
Part Number: SN74LVTH182512DGGR
Documents / Media: datasheets SN74LVTH182512DGGR
Технические характеристики:
- Упаковка: Tape & Reel (TR) Alternate Packaging
- Серия: 74LVTH
- Состояние детали: Active
- Тип логики: ABT Scan Test Device With Universal Bus Transceivers
- Напряжение питания: 2.7 V ~ 3.6 V
- Разрядность: 18
- Рабочая температура: -40°C ~ 85°C
- Вид монтажа: Surface Mount
- Корпус: 64-TFSOP (0.240", 6.10mm Width)
- Исполнение корпуса: 64-TSSOP
487 р.