Texas Instruments
IC SCAN-TEST-DEV/XCVR 64-LQFP (SN74LVTH18504APM)
Part Number: SN74LVTH18504APM
Documents / Media: datasheets SN74LVTH18504APM
Технические характеристики:
- Упаковка: Tray Alternate Packaging
- Серия: 74LVTH
- Состояние детали: Active
- Тип логики: ABT Scan Test Device With Universal Bus Transceivers
- Напряжение питания: 2.7 V ~ 3.6 V
- Разрядность: 20
- Рабочая температура: -40°C ~ 85°C
- Вид монтажа: Surface Mount
- Корпус: 64-LQFP
- Исполнение корпуса: 64-LQFP (10x10)
Цена по запросу