Texas Instruments
IC SCAN-TEST-DEV/XCVR 28-SSOP (SN74ABT8952DL)
Part Number: SN74ABT8952DL
Documents / Media: datasheets отсутствует
Технические характеристики:
- Упаковка: Tube
- Серия: 74ABT
- Состояние детали: Obsolete
- Тип логики: Scan Test Device with Registered Bus Transceiver
- Напряжение питания: 4.5 V ~ 5.5 V
- Разрядность: 8
- Рабочая температура: -40°C ~ 85°C
- Вид монтажа: Surface Mount
- Корпус: 28-BSSOP (0.295", 7.50mm Width)
- Исполнение корпуса: 28-SSOP
Цена по запросу