Texas Instruments
IC SCAN-TEST-DEV/TXRX 64-LQFP (SN74ABTH18646APM)
Part Number: SN74ABTH18646APM
Documents / Media: datasheets SN74ABTH18646APM
Технические характеристики:
- Упаковка: Tray
- Серия: 74ABTH
- Состояние детали: Active
- Тип логики: Scan Test Device With Transceivers And Registers
- Напряжение питания: 4.5 V ~ 5.5 V
- Разрядность: 18
- Рабочая температура: -40°C ~ 85°C
- Вид монтажа: Surface Mount
- Корпус: 64-LQFP
- Исполнение корпуса: 64-LQFP (10x10)
Цена по запросу