Texas Instruments
IC SCAN-TEST-DEV/TXRX 56-SSOP (SN74ABT18640DL)
Part Number: SN74ABT18640DL
Documents / Media: datasheets SN74ABT18640DL
Технические характеристики:
- Упаковка: Tube
- Серия: 74ABT
- Состояние детали: Active
- Тип логики: Scan Test Device with Inverting Bus Transceivers
- Напряжение питания: 4.5 V ~ 5.5 V
- Разрядность: 18
- Рабочая температура: -40°C ~ 85°C
- Вид монтажа: Surface Mount
- Корпус: 56-BSSOP (0.295", 7.50mm Width)
- Исполнение корпуса: 56-SSOP
Цена по запросу