Texas Instruments
IC SCAN TEST DEVICE W/FF 24-DIP (SN74BCT8374ANTG4)
Part Number: SN74BCT8374ANTG4
Documents / Media: datasheets SN74BCT8374ANTG4
Технические характеристики:
- Упаковка: Tube
- Серия: 74BCT
- Состояние детали: Obsolete
- Тип логики: Scan Test Device with D-Type Edge-Triggered Flip-Flops
- Напряжение питания: 4.5 V ~ 5.5 V
- Разрядность: 8
- Рабочая температура: 0°C ~ 70°C
- Вид монтажа: Through Hole
- Корпус: 24-DIP (0.300", 7.62mm)
- Исполнение корпуса: 24-PDIP
Цена по запросу