Texas Instruments
IC SCAN TEST DEVICE BUFF 24-SOIC (SN74BCT8244ADWE4)
Part Number: SN74BCT8244ADWE4
Documents / Media: datasheets SN74BCT8244ADWE4
Технические характеристики:
- Упаковка: Tube Alternate Packaging
- Серия: 74BCT
- Состояние детали: Active
- Тип логики: Scan Test Device with Buffers
- Напряжение питания: 4.5 V ~ 5.5 V
- Разрядность: 8
- Рабочая температура: 0°C ~ 70°C
- Вид монтажа: Surface Mount
- Корпус: 24-SOIC (0.295", 7.50mm Width)
- Исполнение корпуса: 24-SOIC
Цена по запросу