Texas Instruments
IC SCAN TEST DEVICE 28-SOIC (SN74ABT8543DWRE4)
Part Number: SN74ABT8543DWRE4
Documents / Media: datasheets SN74ABT8543DWRE4
Технические характеристики:
- Упаковка: Tape & Reel (TR) Alternate Packaging
- Серия: 74ABT
- Состояние детали: Obsolete
- Тип логики: Scan Test Device with Registered Bus Transceiver
- Напряжение питания: 4.5 V ~ 5.5 V
- Разрядность: 8
- Рабочая температура: -40°C ~ 85°C
- Вид монтажа: Surface Mount
- Корпус: 28-SOIC (0.295", 7.50mm Width)
- Исполнение корпуса: 28-SOIC
Цена по запросу